芯片可靠性测试整体解决方案

提供可靠性测试整体解决方案:可靠性设备,HTOL/LTOL、双85、HAST等几十项可靠性测试方案制定,PCB设计制作,测试试验,满足各类芯片可靠性测试需求。

智能HTOL系统

智能HTOL设备特点:

1、自有发明专利智能动态在线实时监测技术;

2、方便灵活配置芯片状态、施加信号,提高HTOL debug及Setup效率;

3、实时监测并记录环境温度,以及每颗芯片电压,电流,寄存器状态等数据,确保芯片处于正常HTOL状态,保证HTOL测试质量;

4、监测数据异常自动报警,实时发现问题并介入分析,大大提高HTOL效率,节省更多时间成本、FA成本;

5、全程数据实时记录,让HTOL问题更容易分析,更有追溯性;

6、实时参数正态分布图,散点图等分析数据,有利于分析芯片温度特性。

7、全程HTOL数据记录,让质量报告更有说服力,下游客户更放心;

8、设备体积小,重量轻,功耗小,节能环保,干净整洁;

9、操作简单,易于上手。

HTOL方案设计制作

涵盖模拟,数字,混合信号,SOC,RF等各类芯片的可靠性方案设计,原理图设计,PCB layout 加工制作,老化程序开发调试,可靠性测试试验,出具可靠性报告等全方位服务。