芯片可靠性测试整体解决方案

提供可靠性测试整体解决方案:可靠性设备,HTOL/LTOL、双85、HAST等几十项可靠性测试方案制定,PCB设计制作,测试试验,满足各类芯片可靠性测试需求。

HTOL方案设计制作

涵盖模拟,数字,混合信号,SOC,RF等各类芯片的可靠性方案设计,原理图设计,PCB layout 加工制作,老化程序开发调试,可靠性测试试验,出具可靠性报告等全方位服务。

智能HTOL系统

设备特点:
1、自主研发在线实时单颗监测技术;
2、可灵活配置芯片工作状态,并施加信号,非常方便HTOL Setup;
3、实时监测并记录环境温度,以及每颗芯片电压,电流,频率,寄存器状态等数据,确保芯片处于正常HTOL状态,保证HTOL测试质量;
4、通过监测数据,可实时发现问题并介入分析,大大提高HTOL效率,节省更多时间、FA成本;
5、全程数据记录,让HTOL问题更容易分析,更有追溯性;
6、有全程HTOL数据记录,让报告更有说服力,下游客户更放心;